Показать виджеты
Скрыть виджеты
Горячая линия
28 марта 2024 активны на платформе
54 615 +17
Преподавателей
591 345 +196
Студентов
Версия для слабовидящих

Корзина

Позиций
Стоимость 0
Перейти в корзину
Войдите или зарегистрируйтесь, чтобы получить все преимущества платформы Юрайт!

Дифракционный структурный анализ

  • Скопировать в буфер библиографическое описание
    Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Бакалавр. Академический курс). — ISBN 978-5-534-09995-9. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/429120 (дата обращения: 29.03.2024).
  • Добавить в избранное
Учебное пособие для академического бакалавриата
2019
Страниц 272
Обложка Твердая
Гриф Гриф УМО ВО
ISBN 978-5-534-09995-9
Библиографическое описание
Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Бакалавр. Академический курс). — ISBN 978-5-534-09995-9. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/429120 (дата обращения: 29.03.2024).
Дисциплины
Дифракционный структурный анализ , Оптика , Оптическая физика , Оптические измерения , Основы оптики , Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий , Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе , Основы рентгеновской дифрактометрии , Методы исследования материалов и композитов , Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей , Распространение и дифракция электромагнитных волн , Физическая оптика , Основы рентгеноструктурного анализа , Рентгеноструктурный анализ наноматериалов , Дифракционные и микроскопические методы , Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур , Дифракционные и магнитные методы исследования вещества , Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел , Физика дифракции , Структурный анализ и моделирование систем , Рентгеновские методы , Основы физической оптики , Рентгеновские методы исследования материалов , Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов , Колебательные спектры кристаллов , Основы структурного анализа , Резонансные методы исследования вещества , Современные методы магнитного резонанса , Структурный анализ , Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей , Методы структурного анализа материалов и контроля качества , Применение методов молекулярной спектроскопии , Применение рентгеновских методов исследования , Методы рентгеновской визуализации , Цифровые приемники рентгеновского изображения , Физико-химия композитов , Классические задачи теории дифракции , Рентгеновская оптика , Дифракционные методы исследования структуры , Рентгенография и рентгеноструктурный анализ , Специальные методы структурного анализа , Рентгеноструктурный анализ материалов , Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов , Математическое моделирование в теории дифракции , Дифракционная и интерференционная оптика , Физика кристаллических материалов , Дифракционные методы исследования вещества , Современные методы структурного анализа , Физика рентгеновских лучей , Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов , Дифракционные методы анализа материалов , Рентгеноструктурный анализ , Теория дифракции электромагнитных волн , Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн , Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах , Магнитные резонансы в твердых телах , Рентгеновские методы анализа , Основы дифракционного структурного анализа , Квантово-механические методы моделирования наноматериалов , Методы структурного анализа материалов , Техника рентгеноструктурного анализа , Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий , Дифракционные методы , Магнитная симметрия , Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции , Рентгеновская дифракция , Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов , Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии , Технологии структурного анализа , Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов , Методы структурного анализа , Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов , Рентгеновское оборудование , Дифракционные методы анализа веществ и материалов , Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Показать все

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме, приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание учебного пособия соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

Оплаченный доступ к контенту предоставляется только на платформе, а также онлайн и офлайн в мобильном приложении
Скачивание контента в PDF недоступно
8 учебных заведений выбрали эту книгу
Подписка от 349 ₽/мес.
Эта книга и более
10 818 других учебников и
курсов будут доступны при покупке личной подписки