Показать виджеты
Скрыть виджеты
24 декабря 2024 активны на платформе
51 382 +25
Преподавателя
640 169 +291
Студентов
Версия для слабовидящих

Корзина

Позиций
Стоимость 0
Перейти в корзину
Войдите или зарегистрируйтесь, чтобы получить все преимущества платформы Юрайт!

Дифракционный структурный анализ

  • Скопировать в буфер библиографическое описание
    Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Бакалавр. Академический курс). — ISBN 978-5-534-09995-9. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/429120 (дата обращения: 24.12.2024).
  • Добавить в избранное
Учебное пособие для академического бакалавриата
2019
Страниц 272
Обложка Твердая
Гриф Гриф УМО ВО
ISBN 978-5-534-09995-9
Библиографическое описание
Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Бакалавр. Академический курс). — ISBN 978-5-534-09995-9. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/429120 (дата обращения: 24.12.2024).
Дисциплины
Дифракционный структурный анализ , Оптика , Оптические измерения , Основы оптики , Основы рентгеновской дифрактометрии , Методы исследования материалов и композитов , Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей , Рентгеноструктурный анализ наноматериалов , Дифракционные и микроскопические методы , Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур , Дифракционные методы исследования структуры , Рентгеноструктурный анализ материалов , Дифракционная и интерференционная оптика , Дифракционные методы исследования вещества , Дифракционные методы анализа материалов , Основы дифракционного структурного анализа , Методы структурного анализа материалов , Техника рентгеноструктурного анализа , Дифракционные методы , Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов , Методы структурного анализа , Дифракционные методы анализа веществ и материалов
Показать все

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме, приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание учебного пособия соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

Оплаченный доступ к контенту предоставляется только на платформе, а также онлайн и офлайн в мобильном приложении
Скачивание контента в PDF недоступно
8 учебных заведений выбрали эту книгу
Подписка от 349 ₽/мес.
Эта книга и более
11 150 других учебников и
курсов будут доступны при покупке личной подписки