Дифракционный структурный анализ

Скопировать в буфер библиографическое описание
Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 342 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-17188-4. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/532567 (дата обращения: 10.06.2026).
Добавить в избранное

3-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для СПО

Обложка книги ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ Э. В. Суворов. Учебное пособие

Ознакомиться

Подробнее

2024

Страниц 342

Обложка Твердая

Гриф Гриф УМО СПО

ISBN 978-5-534-17188-4

Библиографическое описание

Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 342 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-17188-4. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/532567 (дата обращения: 10.06.2026).

Серия

Профессиональное образование

Тематика/подтематика

Естественные науки / Прикладная и экспериментальная физика

Дисциплины

Кристаллография и минералогия , Неразрушающий контроль в производстве , Оптические измерения , Основы кристаллографии, минералогия , Диагностика и неразрушающий контроль , Неразрушающий контроль рельсов , Основы кристаллографии и минералогии , Проведение спектрального, полярографического и пробирного анализов , Испытания и контроль исходных компонентов, полуфабрикатов, комплектующих для производства изделий из полимерных композитов, включая методы неразрушающего контроля , Общая классификация методов неразрушающего контроля , Теоретические основы осуществления ультразвукового неразрушающего контроля , Теоретические основы, технология и технические средства радиационного неразрушающего контроля , Технология и технические средства ультразвукового неразрушающего контроля , Основы кристаллографии, минералогии и петрографии , Неразрушающий контроль и диагностика , Спектральный анализ , Минералогия и кристаллография , Неразрушающий контроль узлов и деталей , Проведение неразрушающего контроля

Показать все

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами.