Горячая линия
Вход / Регистрация
Войдите или зарегистрируйтесь, чтобы получить все преимущества платформы Юрайт!

Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов

  • Скопировать в буфер библиографическое описание
    Суворов, Э. В.  Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9. — Текст : электронный // ЭБС Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/438493 (дата обращения: 30.11.2020).
  • Добавить в избранное
2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для академического бакалавриата
2019
Страниц 180
Обложка Твердая
Гриф Гриф УМО ВО
ISBN 978-5-534-06011-9
Библиографическое описание
Суворов, Э. В.  Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9. — Текст : электронный // ЭБС Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/438493 (дата обращения: 30.11.2020).
Показать все

С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.