Предисловие

Введение

Тема 1. Основные понятия геометрической кристаллографии

• 1.1. Краткий экскурс в историю кристаллографии (38мин.)
• 1.2. Методы изображения и описания элементов кристаллической решетки (57мин.)
• 1.3. Индексы Миллера, определяющие положение кристаллографической плоскости (38мин.)
• 1.4. Обратная решетка и ее свойства (94мин.)
• 1.5. Кристаллографическая зона (19мин.)
• 1.6. Кристаллографические проекции (94мин.)
• 1.7. Примеры решения типовых задач (113мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Основные понятия геометрической кристаллографии (36мин.)

Тема 2. Симметрия кристаллической решетки: основные понятия

• 2.1. Понятие симметрии. Кристаллографические системы. Решетки Браве (76мин.)
• 2.2. Основные симметрические операции в кристаллической решетке (38мин.)
• 2.3. Точечные группы симметрии (38мин.)
• 2.4. Трансляционная симметрия (38мин.)
• 2.5. Кристаллографические обозначения элементов симметрии (38мин.)
• 2.6. Пространственные группы симметрии (76мин.)
• 2.7. Примеры решения типовых задач (132мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Симметрия кристаллической решетки: основные понятия (40мин.)

Тема 3. Введение в физику рассеяния волн

• 3.1. Основные явления, возникающие при рассеянии волн (57мин.)
• 3.2. Рассеяние плоской волны на линейном отверстии в непрозрачном экране (оптическая щель) (76мин.)
• 3.3. Рассеяние волн на дифракционной решетке (на N щелях) (76мин.)
• 3.4. Дифракция света на щели или круглом отверстии (19мин.)
• 3.5. Преобразования Фурье (57мин.)
• 3.6. Интенсивность и амплитуда дифракционной картины. (19мин.)
• 3.7. Примеры решения типовых задач (76мин.)
• Рекомендуемая литература (38мин.)
• Тест:  Введение в физику рассеяния волн (64мин.)

Тема 4. Введение в рентгеновский структурный анализ

• 4.1. Рентгеновское излучение (113мин.)
• 4.2. Рассеяние рентгеновских лучей на свободных электронах (76мин.)
• 4.3. Рассеяние рентгеновских лучей на трехмерной периодической кристаллической решетке (кинематическое приближение). Интерференционная функция Лауэ (94мин.)
• 4.4. Геометрическая интерпретация условий дифракции по Эвальду (57мин.)
• 4.5. Рассеяние на сложной решетке (57мин.)
• 4.6. Интерпретация явлений дифракции на основе понятий прямой и обратной решеток (19мин.)
• 4.7. Влияние температуры на амплитуду рассеяния рентгеновских волн (76мин.)
• 4.8. Рассеяние рентгеновских волн на объектах с неупорядоченной структурой (132мин.)
• 4.9. Атомный фактор рассеяния (170мин.)
• 4.10. Примеры решения типовых задач (227мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Введение в физику рассеяния рентгеновских волн веществом (78мин.)

Тема 5. Физические основы динамической теории рассеяния

• 5.1. Основные уравнения динамической теории рассеяния (76мин.)
• 5.2. Анализ дисперсионных уравнений (151мин.)
• 5.3. Основные следствия динамической теории рассеяния (57мин.)
• 5.4. Уравнения Такаги — Топена (57мин.)
• 5.5. Примеры решения типовых задач (38мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Физические основы динамической теории рассеяния (22мин.)

Тема 6. Методы анализа дифракционной картины. Получение структурных параметров исследуемого материала

• 6.1. Основные сведения о структуре материалов (94мин.)
• 6.2. Анализ геометрии дифракционной картины (491мин.)
• • 6.2.1. Наиболее распространенные фотометоды рентгеноструктурного анализа (283мин.)
  • 6.2.2. Методы рентгеновской дифрактометрии (132мин.)
  • 6.2.3. Влияние геометрических параметров эксперимента на величину измеренных интенсивностей дифракционных отражений (76мин.)
• 6.3. Примеры решения типовых задач (19мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Методы анализа дифракционной картины. Получение структурных параметров исследуемого материала (30мин.)

Тема 7. Анализ массивов интенсивностей дифракционных рефлексов

• 7.1. Роль фазы в структурном анализе (57мин.)
• 7.2. Основные методы решения фазовой проблемы (57мин.)
• 7.3. Примеры результатов структурного анализа по определению координат атомов в сложных структурах (76мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Анализ массивов интенсивностей дифракционных рефлексов (18мин.)

Тема 8. Методы исследования реальной структуры кристаллов

• 8.1. Дефекты кристаллической структуры (38мин.)
• 8.2. Интегральные методы исследований (38мин.)
• 8.3. Факторы, влияющие на ширину дифракционного рефлекса (38мин.)
• 8.4. Исследования пространственной структуры дифракционного рефлекса монокристаллов (113мин.)
• 8.5. Тонкая структура дифракционных рефлексов и ее связь с реальной структурой кристаллов (416мин.)
• • 8.5.1. Прямые методы исследования дефектов в кристаллах (132мин.)
  • 8.5.2. Метод Ланга (189мин.)
  • 8.5.3. Метод Бормана (76мин.)
  • 8.5.4. Сопоставление методов рентгеновской топографии с электронной микроскопией (19мин.)
• 8.6. Примеры решения типовых задач (94мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Методы исследования реальной структуры кристаллов (34мин.)

Тема 9. Рассеяние под малыми углами. Введение в физику малоуглового рассеяния

• 9.1. К понятию «малоугловое рассеяние» (19мин.)
• 9.2. Физические основы малоуглового рассеяния (19мин.)
• 9.3. Малоугловое рассеяние на жидкости со случайно распределенными частицами одинаковой формы (57мин.)
• 9.4. Области применения малоуглового рассеяния (19мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Рассеяние под малыми углами. Введение в физику малоуглового рассеяния (18мин.)

Тема 10. Введение в микроскопию

• 10.1. Физические основы оптической микроскопии (113мин.)
• 10.2. Схемы оптического микроскопа (38мин.)
• 10.3. Светлопольный и темнопольный контрасты (19мин.)
• 10.4. Амплитудный и фазовый контрасты (57мин.)
• 10.5. Физические основы электронной микроскопии. (38мин.)
• 10.6. Просвечивающий электронный микроскоп (19мин.)
• 10.7. Основные узлы электронного микроскопа (76мин.)
• 10.8. Микроскоп — дифракционный прибор структурных исследований (57мин.)
• 10.9. Передаточная функция электронного микроскопа и ее анализ (38мин.)
• 10.10. Электронная микроскопия высокого разрешения в дифракционном структурном анализе (38мин.)
• 10.11. Примеры решения типовых задач (57мин.)
• Рекомендуемая литература (19мин.)
• Тест:  Введение в микроскопию (112мин.)

Заключение

Список литературы

Приложение 1. Краткий биографический справочник

Приложение 2. Основные структурные характеристики химических элементов таблицы Менделеева

Приложение 3. Некоторые мировые константы, массы химических элементов

Приложение 4. Основные единицы измерений

Приложение 5. Используемый в курсе математический аппарат

Приложение 6. Стереографические проекции кубического кристалла

Приложение 7. Теоремы и выводы формул структурной кристаллографии

Приложение 8. Длины волн излучений в структурном анализе

Приложение 9. Основные закономерности и структурные характеристики кристаллов

Условные обозначения

Завершение курса

• Тест:  Итоговое тестирование (70мин.)