Предисловие

Глава 1. Физика дифракции на трехмерных периодических структурах

• 1.1. Основные понятия физики дифракции (119мин.)
• 1.2. Основные положения кинематического приближения теории рассеяния (263мин.)
• • 1.2.1. Интерференционная функция Лауэ (167мин.)
  • 1.2.2. Обратная решетка. Геометрическая интерпретация условий дифракции (48мин.)
  • 1.2.3. Дифракция на сложной решетке с базисом. Структурная амплитуда (48мин.)
• 1.3. Рассеяние в неупорядоченных системах (334мин.)
• • 1.3.1. Рассеяние на случайном скоплении рассеивающих центров (48мин.)
  • 1.3.2. Атомный фактор рассеяния (143мин.)
  • 1.3.3. Влияние температуры на амплитуду рассеяния (48мин.)
  • 1.3.4. Рассеяние на молекулах разреженного газа. Уравнение Дебая (48мин.)
  • 1.3.5. Радиальная функция межатомных расстояний (48мин.)
• 1.4. Основные положения динамического приближения теории рассеяния (358мин.)
• • 1.4.1. Волновое поле в совершенном кристалле (119мин.)
  • 1.4.2. Двухволновое приближение в совершенном кристалле (95мин.)
  • 1.4.3. Важнейшие следствия динамической теории рассеяния (72мин.)
  • 1.4.4. Волновое поле в кристаллах с искажениями. Уравнения Такаги — Топена (72мин.)
• Контрольные вопросы и задания (24мин.)
• Рекомендуемая литература (24мин.)
• Тест:  Физика дифракции на трехмерных периодических структурах (54мин.)

Глава 2. Рентгеновская дифракционная микроскопия

• 2.1. Методы рентгеновской топографии (286мин.)
• • 2.1.1. Основные характеристики методов рентгеновской топографии (95мин.)
  • 2.1.2. Классификация типов контраста (95мин.)
  • 2.1.3. Применение рентгеновских топографических методов (95мин.)
• 2.2. Механизмы образования рентгеновского дифракционного контраста дефектов (286мин.)
• • 2.2.1. Основные проблемы анализа дифракционного изображения дефектов (24мин.)
  • 2.2.2. Природа дифракционного изображения дислокаций (48мин.)
  • 2.2.3. Дифракционный контраст, формируемый дальним полем дислокаций (95мин.)
  • 2.2.4. Механизмы формирования изображения ближнего поля дислокаций (119мин.)
• Контрольные вопросы и задания (24мин.)
• Рекомендуемая литература (48мин.)
• Тест:  Рентгеновская дифракционная микроскопия (44мин.)

Глава 3. Электронная микроскопия высокого разрешения

• 3.1. Краткий экскурс в историю вопроса (24мин.)
• 3.2. Физические основы оптической микроскопии (191мин.)
• • 3.2.1. Основные характеристики оптических систем (119мин.)
  • 3.2.2. Амплитудный и фазовый контраст (72мин.)
• 3.3. Формирование изображения в оптической системе (95мин.)
• • 3.3.1. Микроскоп как дифракционный прибор. Подход Э. Аббе (48мин.)
  • 3.3.2. Передаточная функция оптической системы (48мин.)
• 3.4. Анализ аберраций в электронном микроскопе (119мин.)
• • 3.4.1. Тонкий фазовый объект в электронной микроскопии (24мин.)
  • 3.4.2. Анализ передаточной функции электронного микроскопа (72мин.)
  • 3.4.3. Метод оптического дифрактометра для экспериментального исследования передаточной функции (24мин.)
• 3.5. Применение электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела (119мин.)
• Контрольные вопросы и задания (24мин.)
• Рекомендуемая литература (48мин.)
• Тест:  Электронная микроскопия высокого разрешения (36мин.)

Глава 4. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ

• 4.1. Основные принципы работы растрового электронного микроскопа (48мин.)
• 4.2. Устройство растрового электронного микроскопа (143мин.)
• • 4.2.1. Формирование электронного зонда (72мин.)
  • 4.2.2. Детекторы вторичных сигналов в растровом электронном микроскопе (48мин.)
• 4.3. Взаимодействие электронного пучка с веществом (286мин.)
• • 4.3.1. Основные механизмы потерь энергии электронов в веществе (24мин.)
  • 4.3.2. Основные источники сигналов, используемых для формирования изображения в растровом электронном микроскопе (191мин.)
  • 4.3.3. Область взаимодействия электронов зонда с веществом мишени (48мин.)
• 4.4. Формирование контраста в растровом электронном микроскопе (119мин.)
• • 4.4.1. Основные механизмы формирования изображения в растровом электронном микроскопе (72мин.)
  • 4.4.2. Методы обработки видеосигнала в растровом электронном микроскопе (48мин.)
• 4.5. Применение растровой электронной микроскопии (119мин.)
• 4.6. Рентгеновский микроанализ (143мин.)
• • 4.6.1. Методы регистрации рентгеновского спектра (95мин.)
  • 4.6.2. Принципы количественного рентгеноспектрального микроанализа (48мин.)
• Контрольные вопросы и задания (24мин.)
• Рекомендуемая литература (48мин.)
• Тест:  Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ (64мин.)

Заключение

Список литературы

Приложение 1. Длины волн K-серий элементов, употребляемых в качестве анодов в рентгеноструктурном анализе

Приложение 2. Вывод интерференционной функции Лауэ

Приложение 3. Индексы Миллера. Обратная решетка и ее свойства

Приложение 4. Уравнения Лауэ и их связь с векторной формой уравнения дифракции

Приложение 5. Погасания рефлексов для примитивной, гранецентрированной и объемно-центрированной решеток

Приложение 6. Установочные брэгговские углы для кремния (решетка кремния кубическая с параметром a = 5,4306 Å) и соответствующие экстинкционные длины (L) для двух длин волн

Приложение 7. Примеры решения типовых задач

Завершение курса

• Тест:  Итоговое тестирование (40мин.)