Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов

Скопировать в буфер библиографическое описание
Суворов, Э. В. Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/539265 (дата обращения: 22.12.2024).
Добавить в избранное

2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов

Курс с экзаменом

Обложка книги МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ: МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ И СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ Суворов Э. В. Учебное пособие

Ознакомиться

Подробнее

2024

Страниц 180

Обложка Твердая

Гриф Гриф УМО ВО

ISBN 978-5-534-06011-9

Библиографическое описание

Суворов, Э. В. Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/539265 (дата обращения: 22.12.2024).

Серия

Высшее образование

Тематика/подтематика

Технические науки и информационные технологии / Материаловедение
Естественные науки / Прикладная и экспериментальная физика

Дисциплины

Физика реального кристалла , Рентгенография и электронная микроскопия , Теория строения материалов , Кристаллография, рентгенография и микроскопия , Основы теории строения материалов , Основы физики жидких кристаллов , Методы структурного анализа металлов и сплавов , Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении , Реальная структура материалов , Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов , Кристаллография и физика твердого тела , Физико-химические основы материаловедения , Рентгенография , Физико-химический анализ - основа современного материаловедения , Методы исследования физико-механических свойств материалов , Рентгенография наноматериалов , Рентгенография и микроскопия , Рентгенография кристаллов , Физика реальных кристаллов , Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия , Методы анализа состава материалов , Методы структурного анализа материалов , Рентгенография и микроскопия: проектное обучение , Современные методы структурного анализа в материаловедении , Структурный анализ сплавов , Введение в физику жидких кристаллов , Основы физики прочности и материаловедение , Физика и методы исследования наноструктур

Показать все

С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.