Показать виджеты
Скрыть виджеты
14 декабря 2025 активны на платформе
51 016 -66
Преподавателей
685 864 -1170
Студента
Версия для слабовидящих

Корзина

Позиций
Стоимость 0
Перейти в корзину
Войдите или зарегистрируйтесь, чтобы получить все преимущества платформы Юрайт!

Дифракционный структурный анализ

  • Скопировать в буфер библиографическое описание
    Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/447623 (дата обращения: 14.12.2025).
  • Добавить в избранное
Учебное пособие для СПО
2019
Страниц 272
Обложка Твердая
Гриф Гриф УМО СПО
ISBN 978-5-534-11822-3
Библиографическое описание
Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/447623 (дата обращения: 14.12.2025).
Дисциплины
Кристаллография и минералогия , Неразрушающий контроль в производстве , Оптические измерения , Основы кристаллографии, минералогия , Диагностика и неразрушающий контроль , Неразрушающий контроль рельсов , Основы кристаллографии и минералогии , Проведение спектрального, полярографического и пробирного анализов , Испытания и контроль исходных компонентов, полуфабрикатов, комплектующих для производства изделий из полимерных композитов, включая методы неразрушающего контроля , Общая классификация методов неразрушающего контроля , Теоретические основы осуществления ультразвукового неразрушающего контроля , Теоретические основы, технология и технические средства радиационного неразрушающего контроля , Технология и технические средства ультразвукового неразрушающего контроля , Основы кристаллографии, минералогии и петрографии , Неразрушающий контроль и диагностика , Спектральный анализ , Минералогия и кристаллография , Неразрушающий контроль узлов и деталей , Проведение неразрушающего контроля
Показать все

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.

Оплаченный доступ к контенту предоставляется только на платформе, а также онлайн и офлайн в мобильном приложении
Скачивание контента в PDF недоступно
Документы о прохождении курсов не выдаются. Преподаватели могут повысить квалификацию:
  1. На школе преподавателей
  2. На конференциях
8 учебных заведений выбрали эту книгу
Подписка от 465 ₽/мес.
Эта книга и более
11 490 других учебников и
курсов будут доступны при покупке личной подписки