Показать виджеты
Скрыть виджеты
22 ноября 2024 активны на платформе
52 496 -22
Преподавателей
648 011 +1247
Студентов
Версия для слабовидящих

Корзина

Позиций
Стоимость 0
Перейти в корзину
Войдите или зарегистрируйтесь, чтобы получить все преимущества платформы Юрайт!

Дифракционный структурный анализ

  • Скопировать в буфер библиографическое описание
    Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/447623 (дата обращения: 22.11.2024).
  • Добавить в избранное
Учебное пособие для СПО
2019
Страниц 272
Обложка Твердая
Гриф Гриф УМО СПО
ISBN 978-5-534-11822-3
Библиографическое описание
Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/447623 (дата обращения: 22.11.2024).
Дисциплины
Кристаллография и минералогия , Неразрушающий контроль в производстве , Оптические измерения , Основы кристаллографии, минералогия , Диагностика и неразрушающий контроль , Неразрушающий контроль рельсов , Основы кристаллографии и минералогии , Проведение спектрального, полярографического и пробирного анализов , Испытания и контроль исходных компонентов, полуфабрикатов, комплектующих для производства изделий из полимерных композитов, включая методы неразрушающего контроля , Общая классификация методов неразрушающего контроля , Теоретические основы осуществления ультразвукового неразрушающего контроля , Теоретические основы, технология и технические средства радиационного неразрушающего контроля , Технология и технические средства ультразвукового неразрушающего контроля , Основы кристаллографии, минералогии и петрографии , Неразрушающий контроль и диагностика , Спектральный анализ , Минералогия и кристаллография , Неразрушающий контроль узлов и деталей
Показать все

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.

Оплаченный доступ к контенту предоставляется только на платформе, а также онлайн и офлайн в мобильном приложении
Скачивание контента в PDF недоступно
8 учебных заведений выбрали эту книгу
Подписка от 349 ₽/мес.
Эта книга и более
11 135 других учебников и
курсов будут доступны при покупке личной подписки