Вебинар:
Дифракционный структурный анализ
-
Скопировать в буфер библиографическое описание
Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2020. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/456307 (дата обращения: 25.11.2024).
- Добавить в избранное
Учебное пособие для СПО
2020
Страниц
272
Обложка
Твердая
Гриф
Гриф УМО СПО
ISBN
978-5-534-11822-3
Библиографическое описание
Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2020. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/456307 (дата обращения: 25.11.2024).
Тематика/подтематика
Дисциплины
Кристаллография и минералогия ,
Неразрушающий контроль в производстве ,
Оптические измерения ,
Основы кристаллографии, минералогия ,
Диагностика и неразрушающий контроль ,
Неразрушающий контроль рельсов ,
Основы кристаллографии и минералогии ,
Проведение спектрального, полярографического и пробирного анализов ,
Испытания и контроль исходных компонентов, полуфабрикатов, комплектующих для производства изделий из полимерных композитов, включая методы неразрушающего контроля ,
Общая классификация методов неразрушающего контроля ,
Теоретические основы осуществления ультразвукового неразрушающего контроля ,
Теоретические основы, технология и технические средства радиационного неразрушающего контроля ,
Технология и технические средства ультразвукового неразрушающего контроля ,
Основы кристаллографии, минералогии и петрографии ,
Неразрушающий контроль и диагностика ,
Спектральный анализ ,
Минералогия и кристаллография ,
Неразрушающий контроль узлов и деталей
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.
Более 10 000 учебников
Более 5000 курсов
Тесты и задания платформы