Показать виджеты
Скрыть виджеты
12 ноября 2024 активны на платформе
52 752 +41
Преподавателя
644 709 +1041
Студентов
Версия для слабовидящих

Корзина

Позиций
Стоимость 0
Перейти в корзину
Войдите или зарегистрируйтесь, чтобы получить все преимущества платформы Юрайт!

Дифракционный структурный анализ

  • Скопировать в буфер библиографическое описание
    Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2022. — 309 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-15619-5. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/509213 (дата обращения: 13.11.2024).
  • Добавить в избранное
2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для СПО
2022
Страниц 309
Обложка Твердая
Гриф Гриф УМО СПО
ISBN 978-5-534-15619-5
Библиографическое описание
Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2022. — 309 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-15619-5. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/509213 (дата обращения: 13.11.2024).
Дисциплины
Кристаллография и минералогия , Неразрушающий контроль в производстве , Оптические измерения , Основы кристаллографии, минералогия , Диагностика и неразрушающий контроль , Неразрушающий контроль рельсов , Основы кристаллографии и минералогии , Проведение спектрального, полярографического и пробирного анализов , Испытания и контроль исходных компонентов, полуфабрикатов, комплектующих для производства изделий из полимерных композитов, включая методы неразрушающего контроля , Общая классификация методов неразрушающего контроля , Теоретические основы осуществления ультразвукового неразрушающего контроля , Теоретические основы, технология и технические средства радиационного неразрушающего контроля , Технология и технические средства ультразвукового неразрушающего контроля , Основы кристаллографии, минералогии и петрографии , Неразрушающий контроль и диагностика , Спектральный анализ , Минералогия и кристаллография , Неразрушающий контроль узлов и деталей
Показать все

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.

Оплаченный доступ к контенту предоставляется только на платформе, а также онлайн и офлайн в мобильном приложении
Скачивание контента в PDF недоступно
8 учебных заведений выбрали эту книгу
Подписка от 349 ₽/мес.
Эта книга и более
11 120 других учебников и
курсов будут доступны при покупке личной подписки