Показать виджеты
Скрыть виджеты
Горячая линия
17 июня 2024 активны на платформе
52 701 -58
Преподаватель
567 640 -510
Студентов
Версия для слабовидящих

Корзина

Позиций
Стоимость 0
Перейти в корзину
Войдите или зарегистрируйтесь, чтобы получить все преимущества платформы Юрайт!

Дифракционный структурный анализ

  • Скопировать в буфер библиографическое описание
    Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 342 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17203-4. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/532585 (дата обращения: 17.06.2024).
  • Добавить в избранное
3-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов
  • Курс с экзаменом
2024
Страниц 342
Обложка Твердая
Гриф Гриф УМО ВО
ISBN 978-5-534-17203-4
Библиографическое описание
Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 342 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17203-4. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/532585 (дата обращения: 17.06.2024).
Дисциплины
Дифракционный структурный анализ , Оптика , Оптические измерения , Основы оптики , Основы рентгеновской дифрактометрии , Методы исследования материалов и композитов , Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей , Рентгеноструктурный анализ наноматериалов , Дифракционные и микроскопические методы , Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур , Дифракционные методы исследования структуры , Рентгеноструктурный анализ материалов , Дифракционная и интерференционная оптика , Дифракционные методы исследования вещества , Дифракционные методы анализа материалов , Основы дифракционного структурного анализа , Методы структурного анализа материалов , Техника рентгеноструктурного анализа , Дифракционные методы , Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов , Методы структурного анализа , Дифракционные методы анализа веществ и материалов
Показать все

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

Оплаченный доступ к контенту предоставляется только на платформе, а также онлайн и офлайн в мобильном приложении
Скачивание контента в PDF недоступно
Узнать цены для учебных заведений
8 учебных заведений выбрали эту книгу
Подписка от 349 ₽/мес.
Эта книга и более
10 907 других учебников и
курсов будут доступны при покупке личной подписки