Дифракционный структурный анализ

Скопировать в буфер библиографическое описание
Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 342 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17203-4. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/532585 (дата обращения: 23.12.2024).
Добавить в избранное

3-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов

Курс с экзаменом

Обложка книги ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ Э. В. Суворов. Учебное пособие

Ознакомиться

Подробнее

2024

Страниц 342

Обложка Твердая

Гриф Гриф УМО ВО

ISBN 978-5-534-17203-4

Библиографическое описание

Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 342 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17203-4. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/532585 (дата обращения: 23.12.2024).

Серия

Высшее образование

Тематика/подтематика

Естественные науки / Прикладная и экспериментальная физика

Дисциплины

Дифракционный структурный анализ , Оптика , Оптические измерения , Основы оптики , Основы рентгеновской дифрактометрии , Методы исследования материалов и композитов , Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей , Рентгеноструктурный анализ наноматериалов , Дифракционные и микроскопические методы , Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур , Дифракционные методы исследования структуры , Рентгеноструктурный анализ материалов , Дифракционная и интерференционная оптика , Дифракционные методы исследования вещества , Дифракционные методы анализа материалов , Основы дифракционного структурного анализа , Методы структурного анализа материалов , Техника рентгеноструктурного анализа , Дифракционные методы , Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов , Методы структурного анализа , Дифракционные методы анализа веществ и материалов

Показать все

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.