Показать виджеты
Скрыть виджеты
18 ноября 2024 активны на платформе
52 456 -49
Преподавателей
644 610 -449
Студентов
Версия для слабовидящих

Корзина

Позиций
Стоимость 0
Перейти в корзину
Войдите или зарегистрируйтесь, чтобы получить все преимущества платформы Юрайт!

Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов

  • Скопировать в буфер библиографическое описание
    Суворов, Э. В.  Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2021. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/468284 (дата обращения: 18.11.2024).
  • Добавить в избранное
2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов
2021
Страниц 180
Обложка Твердая
Гриф Гриф УМО ВО
ISBN 978-5-534-06011-9
Библиографическое описание
Суворов, Э. В.  Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2021. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/468284 (дата обращения: 18.11.2024).
Дисциплины
Физика реального кристалла , Рентгенография и электронная микроскопия , Теория строения материалов , Кристаллография, рентгенография и микроскопия , Основы теории строения материалов , Основы физики жидких кристаллов , Методы структурного анализа металлов и сплавов , Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении , Реальная структура материалов , Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов , Кристаллография и физика твердого тела , Физико-химические основы материаловедения , Рентгенография , Физико-химический анализ - основа современного материаловедения , Методы исследования физико-механических свойств материалов , Рентгенография наноматериалов , Рентгенография и микроскопия , Рентгенография кристаллов , Физика реальных кристаллов , Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия , Методы анализа состава материалов , Методы структурного анализа материалов , Рентгенография и микроскопия: проектное обучение , Современные методы структурного анализа в материаловедении , Структурный анализ сплавов , Введение в физику жидких кристаллов , Основы физики прочности и материаловедение , Физика и методы исследования наноструктур
Показать все

С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.