Дифракционный структурный анализ

Скопировать в буфер библиографическое описание
Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2025. — 342 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17203-4. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/565589 (дата обращения: 11.06.2026).
Добавить в избранное

3-е изд., пер. и доп. Учебник для вузов

Обложка книги ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ Суворов Э. В. Учебник

Ознакомиться

Подробнее

2025

Страниц 342

Обложка Твердая

Гриф Гриф УМО ВО

ISBN 978-5-534-17203-4

Библиографическое описание

Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2025. — 342 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17203-4. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/565589 (дата обращения: 11.06.2026).

Серия

Высшее образование

Тематика/подтематика

Естественные науки / Прикладная и экспериментальная физика

Дисциплины

Дифракционный структурный анализ , Оптика , Оптические измерения , Основы оптики , Основы рентгеновской дифрактометрии , Методы исследования материалов и композитов , Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей , Рентгеноструктурный анализ наноматериалов , Дифракционные и микроскопические методы , Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур , Дифракционные методы исследования структуры , Рентгеноструктурный анализ материалов , Дифракционная и интерференционная оптика , Дифракционные методы исследования вещества , Дифракционные методы анализа материалов , Основы дифракционного структурного анализа , Методы структурного анализа материалов , Техника рентгеноструктурного анализа , Дифракционные методы , Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов , Методы структурного анализа , Дифракционные методы анализа веществ и материалов

Показать все

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую тему включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме, приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце курса помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание курса соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.